Transmisní elektronový mikroskop je možno provozovat v klasickém režimu nebo v režimu
difrakce.
Za normálních podmínek je mezičočka zaostřena na první reálnou meziobrazovou rovinu objektivu.
V podmínkách elektronové
difrakce
je mezičočka zaostřena na první
difrakční
obrazec. Objektivová aperturní clona musí být odstraněna, aby na ní nebyly zachytávány elektrony odkloněné
difrakcí.
Tímto způsobem dojde k zobrazení
difraktovaných
i primárních elektronů na stínítku. Pomocí selekční clony je možno vybrat z celkového obrazu jen určitou oblast vzorku,
proto je takto uspořádaná selektivní
difrakce
nazývána mikrodifrakcí. Předností popsaného uspořádání je možnost kontrolního zobrazení té oblasti vzorku,
která vytváří
difrakční
obrazec vymezený selekční clonou pouhým přeostřením mezičočky z prvního
difrakčního
obrazce na první reálný obraz.
Obrázek ukazuje v levé části normální režim a v pravé
difrakční
režim.
